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ミッション合成による電子機器の加速振動試験
ミッション合成で電子機器の振動試験を改善する方法
このウェビナーでは、ランダムな振動と衝撃が電子機器の信頼性に及ぼす影響を説明し、実際の製品使用状況を反映させたミッション合成による加速振動試験をより良く定義する方法を紹介します。ぜひご登録ください。ミッション合成は、損傷ベースの手法であり、実際の使用状況プロファイルを測定して、同等の振動試験プロファイルを加速させるものです。
ミッション合成で試験の過不足を回避
多くのメーカーはASTM、MIL、ISO標準の振動試験にのみ依存しています。これは通常、平均的な振動加振を長期的に適用して、製品の機能性がどう変わるかを試験するものです。これにより過剰試験となれば不要な試作コストと遅延が発生します。一方、試験が不足すれば、不良が未検出のまま製品が出荷され、後で故障が発生することになり、顧客の苦情や保証 / リコールコストを招きます。
このオンラインウェビナーでは、ラップトップを例にとり、試験過不足リスクをいかに回避するかを考察するとともに、Simcenter Testlabソリューションのミッション合成プロセスを使用して疲労寿命を考慮した試験を行う方法を紹介します。ラップトップのユーザープロファイルを3とおり準備し、日常使用による損傷データを実測するプロセスを用いて、電子機器の加速振動試験プロファイルをどう定義するかを説明します。
ミッション合成に関する本ウェビナーの内容
- 実世界の振動、すなわち「ミッション」の選択と測定
- 潜在的な損傷の計算
- 合計の損傷等価量の定義
- 加振装置による加速試験のセットアップ
発表者
Frank Demesmaeker - シーメンス試験ソリューション 事業開発シニアマネージャー
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