Simcenter Testing

Simcenter Micred Quality Tester

Migliora la garanzia di qualità termica dei pacchetti di semiconduttori con una soluzione di test che combina la misurazione precisa dell'impedenza termica con un binning automatico ad alta produttività.

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Apparecchiatura che utilizza Simcenter Micred Quality Tester.

Perché scegliere Simcenter Micred Quality Tester?

Simcenter Micred Quality Tester consente di valutare la struttura termica di un pacchetto di semiconduttori per identificare i difetti di produzione, inclusi i problemi di fissaggio dello stampo.

Precisione
Utilizza un'accurata misurazione dell'impedenza termica in combinazione con apparecchiature di test automatiche. Un'accurata misurazione della risposta termica a un breve impulso di potenza consente di svolgere test ad alta produttività sui semiconduttori, anche per la verifica della resistenza termica tra giunzioni e involucri. La misurazione della temperatura di giunzione avviene tramite metodo elettrico utilizzando la tecnologia Simcenter Micred T3STER integrata.

Raggiungi un livello di qualità superiore
Quando un operatore di test IC preleva e posiziona i dispositivi per il test, ogni dispositivo viene qualificato per il binning automatico rispetto a una curva di impedenza termica di riferimento e a bande di variazione preimpostate.

Caratterizzazione termica dei pacchetti di semiconduttori – metriche termiche, affidabilità e qualità

La comprensione delle prestazioni termiche e delle influenze sull'affidabilità termica dei dispositivi a semiconduttore e dei pacchetti IC è importante durante lo sviluppo del prodotto e lungo tutta la supply chain dell'elettronica.

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