Simulación y ensayos de la última tecnología para los componentes electrónicos de un vehículo eléctrico

Con el aumento de los vehículos eléctricos, la adopción de nuevas tecnologías y la necesidad de más eficiencia, han aparecido requisitos de calidad y fiabilidad más estrictos. Estos han sido establecidos por los OEMs del sector para los proveedores de componentes semiconductores. Durante las fases de diseño de los módulos de electrónica, el rendimiento térmico y los datos son importantes para el desarrollo y la verificación. Para la producción, los OEMs de la automoción piden a los proveedores datos de pruebas de calidad para lotes o para cada componente.

Este webinar explica cómo el hardware de test mide con precisión las métricas térmicas de los componentes electrónicos y mejora la precisión de la simulación térmica durante el desarrollo del módulo. Asimismo, explica cómo definir y realizar estudios de ensayos de ciclos de carga para valorar la fiabilidad térmica y predecir la vida útil. Esta presentación abarcará ensayos térmicos de transistores IGBT de silicona y dispositivos MOSFET de carburo de silicio (SiC) combinados con el diagnóstico de fallos y una revisión de la aplicación de tests transitorios térmicos a la garantía de calidad para reducir los costes de la garantía.

Obtendrá más información sobre cómo:

• Aplicar el método de ensayos eléctricos JEDEC JESD 51-1 para la caracterización térmica
• Las funciones estructurales ofrecen soporte al diseño térmico, la simulación, el diagnóstico de fallos y la identificación de defectos
• Predecir la fiabilidad y vida útil con los ensayos de ciclos de carga

Orador:
Andras Vass-Varnai, Global Business Development Manager, Soluciones de tests térmicos de Simcenter (antes hardware MicReD)