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Combined thermal, radiometric and photometric testing of LEDs

LEDs als Lichtquellen haben die Beleuchtungsbranche revolutioniert. Ihr komplexer, domänenübergreifender Betrieb erfordert eine sorgfältige Charakterisierung, um Daten zu erhalten, die für die thermische, elektrische und die Lichtplanung nützlich sind. Unsere Simcenter T3STER™-Hardware für die thermische Charakterisierung und die temperaturgesteuerte Teststufe von Simcenter TERALED bilden eine kombinierte elektrische, thermische und radio- bzw. fotometrische Teststation für LEDs und LED-Module – so entstehen kompakte Modelle für viele Anwendungsbereiche, die in Simcenter für thermische Konstruktionen eingesetzt werden können.

Diese LED-Testlösungen entsprechen der JEDEC JESD51-52 und den technischen CIE-Berichten 127:2007 und 225:2017. Der tatsächliche Wärmewiderstand und die Lichtleistungskennzahlen werden als Funktion der tatsächlichen LED-Sperrschichttemperatur über einen weiten Bereich des Durchlassstroms gemessen. Der zu 100 % automatisierte Messvorgang dauert nur wenige Stunden, während ein manueller Vorgang länger als einen Tag in Anspruch nehmen kann.

Durch die Unterstützung von Spektroradiometern von Drittanbietern können Emissionsspektren automatisch erfasst werden, was weitere Erkenntnisse für die präzise Modellierung der Lichtleistungseigenschaften von LED-Paketen beim Beleuchtungsdesign liefert.


Weitere Informationen:

White Paper: Thermische und photometrische Prüfung und Simulation von LEDs – Beispiel Automobilbau

Delphi4LED: Von der Messung bis zum standardisierten domänenübergreifenden Kompaktmodell von LEDs

Der neueste Stand der Technik in der thermischen LED-Charakterisierung

White Paper: Testen einer Hochleistungs-LED mit T3STER & TERALED: Beispiel Nebelscheinwerfer

Messung an standardisierten domänenübergreifenden Kompaktmodellen von LEDs: Delphi4LED-Update

Simcenter TERALED

LEDs als Lichtquellen haben die Beleuchtungsbranche revolutioniert. Ihr komplexer, domänenübergreifender Betrieb erfordert eine sorgfältige Charakterisierung, um Daten zu erhalten, die für die thermische, elektrische und die Lichtplanung nützlich sind. Unsere Simcenter T3STER™-Hardware für die thermische Charakterisierung und die temperaturgesteuerte Teststufe von Simcenter TERALED bilden eine kombinierte elektrische, thermische und radio- bzw. fotometrische Teststation für LEDs und LED-Module – so entstehen kompakte Modelle für viele Anwendungsbereiche, die in Simcenter für thermische Konstruktionen eingesetzt werden können.

Diese LED-Testlösungen entsprechen der JEDEC JESD51-52 und den technischen CIE-Berichten 127:2007 und 225:2017. Der tatsächliche Wärmewiderstand und die Lichtleistungskennzahlen werden als Funktion der tatsächlichen LED-Sperrschichttemperatur über einen weiten Bereich des Durchlassstroms gemessen. Der zu 100 % automatisierte Messvorgang dauert nur wenige Stunden, während ein manueller Vorgang länger als einen Tag in Anspruch nehmen kann.

Durch die Unterstützung von Spektroradiometern von Drittanbietern können Emissionsspektren automatisch erfasst werden, was weitere Erkenntnisse für die präzise Modellierung der Lichtleistungseigenschaften von LED-Paketen beim Beleuchtungsdesign liefert.


Weitere Informationen:

White Paper: Thermische und photometrische Prüfung und Simulation von LEDs – Beispiel Automobilbau

Delphi4LED: Von der Messung bis zum standardisierten domänenübergreifenden Kompaktmodell von LEDs

Der neueste Stand der Technik in der thermischen LED-Charakterisierung

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Messung an standardisierten domänenübergreifenden Kompaktmodellen von LEDs: Delphi4LED-Update